作為輻射發(fā)射和輻射抗擾度測(cè)試的測(cè)試環(huán)境，除了常用的GTEM小室，電工委員會(huì)IEC還規(guī)定了基于TEM的測(cè)試方法，對(duì)應(yīng)的國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)是GB/T 17626.20 橫電磁波(TEM) 波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)。

　　TEM波導(dǎo)可分為開(kāi)放式的比如帶狀線或者封閉式的比如GTEM小室，還可分為單端口，雙端口，多端口波導(dǎo)。TEM波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于試驗(yàn)要求和TEM波導(dǎo)的具體類(lèi)型。

　　GTEM小室可看成是將50Ω同軸電纜進(jìn)行空間上的擴(kuò)展，以便容下被測(cè)對(duì)象。同軸電纜的芯線被擴(kuò)展為GTEM小室的芯板，同軸電纜的外皮被做成GTEM小室的外殼。GTEM小室內(nèi)部的特性阻抗依舊被設(shè)計(jì)成50Ω，為了防止輸入的電磁波在內(nèi)部腔體的末端產(chǎn)生反射，把芯板的末端接到了寬帶的匹配負(fù)載上，在腔體的末端還安放了吸波材料以便將發(fā)射到末端的電磁波吸收。在GTEM波導(dǎo)內(nèi)的電磁波，橫向電磁波沿著芯板進(jìn)行傳播，產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度與芯板上所施加的電壓成正比。不同位置的場(chǎng)的強(qiáng)度還取決于芯板的高度（內(nèi)導(dǎo)體與地之間的距離），越靠近隔板，場(chǎng)強(qiáng)就越強(qiáng)。

　　GTEM波導(dǎo)的尺寸可根據(jù)被測(cè)物的尺寸進(jìn)行選擇，被測(cè)物要放置在GTEM波導(dǎo)內(nèi)部的末端，也就是門(mén)的位置附近。能夠測(cè)量的被測(cè)物的大尺寸取決于芯板的高度，也就是內(nèi)導(dǎo)體芯板與地之間的距離，通常可參照被測(cè)物的高度約為芯板的高度的0.33h， 可擴(kuò)充至zui大0.5h。

　　GTEM小室是除了開(kāi)闊場(chǎng)法(OATS)和電波暗室（SAC）之外電工委員會(huì)IEC所定義的另一種測(cè)試環(huán)境，同樣可以獲得有效的和可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果，即可用于輻射發(fā)射測(cè)試也可用于輻射抗擾度測(cè)試。

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